FCC認證中針對LTE終端最新規(guī)范簡介
        近期，美國聯(lián)邦通信委員會（FCC）發(fā)布了多項關(guān)于PBA（Permit But Ask）和LTE SAR的更新測試規(guī)范KDB文件。這包括《KDB 941225 D05 V02》和《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》。其的主要變更如下：

序號	測試規(guī)范內(nèi)容	需要PBA	不需要PBA
	按照新規(guī)范KDB 941225 D05 V02進行的LTE設(shè)備SAR測試
	制造商可按照舊規(guī)范KDB 941225 D05 V01進行測試，直至2012年12月31日
	頻道帶寬為80+80MHz或160MHz的802.11ac SAR測試
	SAR測試方法在2.0GHz以上增加了測試精度，測試時間約長15%
	KDB 941225 D05 V02與V01的主要區(qū)別在于LTE測試從中頻的50%QPSK中間偏移和QPSK 1RB 上/下偏移為主，改為低/中/高頻的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移為主
	容積掃描SAR
	帶有P-傳感器的平板電腦
	按照新規(guī)范KDB 941225 D05 V02進行的LTE設(shè)備SAR測試，增加容積掃面SAR

        FCC認證中針對LTE終端最新規(guī)范新KDB文件將在2013年1月1號正式開始使用，在2013年1月1號以后提交的FCC申請需要按照新KDB來進行測試。
        文件中指出能按照《KDB 941225 D05 V02》指導文件完成的LTE設(shè)備：如USB數(shù)據(jù)卡、手機，該類LTE設(shè)備不需要走PBA流程。《KDB 941225 D05 V02》與“V01版本”的主要區(qū)別在于LTE測試從中頻的50%QPSK中間偏移和QPSK 1RB 上/下偏移為主，改為低/中/高頻的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移為主。
         FCC認證針對于新《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》對SAR測試方法、測試門限、多發(fā)射機評估做了新定義，主要依據(jù)是功率大小和使用距離來判定。